>>>產品描述>>>

     新型OE750是OES金屬分析儀。 它涵蓋了金屬中所有元素的全部光譜，并且具有同類產品中最低的檢測限。
     OE750包括先進的半導體檢測器和新的光學概念（正在申請四項專利）。 這使Hitachi OES分析儀具有同類產品中高的光學分辨率，因此您不必在高性能和低成本之間進行選擇。
     OE750設計用于高度分析和可靠的性能。 擴展的波長范圍和優化的等離子體耦合保證了對重要元素（例如鋼中的氮，鋁中的磷）的精確識別和痕量分析。 可以安全地分析合金元素以及痕量和不需要的元素，并且檢出限在最低ppm范圍內。
     緊湊而堅固的設計使OE750幾乎可以安裝在任何工業環境中

>>>工作原理>>>

     數控激勵源在樣品和電極之間產生強大的放電。放電使表面上的一小部分樣品材料熔化，蒸發并激發它在等離子體中發光。火花塞已用氬氣沖洗過。氬氣氣氛可防止樣品表面氧化，并使幾乎所有的放電能量都在連接陰極的樣品上轉化。特征光（例如，鐵類材料的藍色）包含有關元素及其在樣品中的含量的光譜信息。
     在火花架中產生的光被引導到衍射光柵上，并被該光柵分解成其光譜分量。波長較長的光比波長較短的光偏轉（“衍射”）的強度更大。結果是可以使用光敏檢測器測量的樣品的發射光譜。 OE750使用具有高靈敏度和長壽命的光學傳感器。光學系統在即使在約200 nm以下也能保證透明的介質中工作。
     動態CMOS檢測器的創新使用以及光學系統與火花架的直接連接確保了120 nm至780 nm波長范圍內的光強度。該范圍涵蓋了從氫到鈾的所有元素，可以進行完整的金屬分析。到目前為止，這種性能范圍僅在高端范圍內提供。憑借創新的技術以及較低的氬氣和功耗，OE750是滿足高要求的經濟高效的替代產品。
完整頻譜的記錄需要一個快速讀取系統，該系統可以快速處理大量數據。從發射光譜獲得的光強度使用儀器中存儲的校準曲線轉換為內含物。
     此信息顯示在屏幕上并進行進一步處理（質量檢測（PMI），監視過程控制的限制等）。
     OE750為此使用了一個特殊的處理器，它可以同時評估多達16個獨立的傳感器，從而可以使用DIA（動態集成算法）進行精確的分析。

>>>Sparcfire軟件>>>

  SpArcfire是一款現代操作軟件，具有適用于固定式Hitachi High-Tech高科技光發射光譜儀（OES）的最新用戶界面。該軟件旨在滿足冶金專家的要求，但其直觀性足以讓經驗不足的用戶進行操作，這意味著您無需大量培訓即可快速獲得結果。該體系結構是基于插件的–現在就準備好并適合將來。
     您無需成為冶金專家即可進行分析。只需單擊一下即可創建首選視圖-水平或垂直。同樣，抑制元素，使其獨立于顯示器，打印機和存儲格式重新排序也很簡單。從預先安裝的公式庫中添加，編輯和選擇公式非常容易。
     通過一些簡單而全面的步驟，您可以：
    ?分析未知材料；
    ?使用日立GRADE數據庫搜索和驗證成績；
    ?只需單擊幾下即可創建定制的報告模板；
    ?使用向導執行非常規任務；
    ?使用對照樣品執行和評估準確性測試；
    ?對于高級用戶：修改回歸數據以擴展校準范圍。

>>>牌號數據庫>>>

     GRADE數據庫是大的金屬數據庫。它已預安裝在日立高科技光發射光譜儀（OES）上，具有超過1500萬條記錄，適用于近350,000種金屬等級。
    通過一些簡單而全面的步驟，您可以：
    ?分析未知材料；
    ?使用日立GRADE數據庫搜索和驗證成績；
    ?只需單擊幾下即可創建定制的報告模板；
    ?使用向導執行非常規任務；
    ?使用對照樣品執行和評估準確性測試；
    ?對于高級用戶：修改回歸數據以擴展校準范圍；

FP-LIMS：

     在當今的實驗室環境中，越來越多的測試和越來越多的文檔要求。還需要根據原始數據快速生成證書或使用決策。現代化的[FP] -LIMS實驗室軟件解決方案具有突破性的靈活性，可以完成這些任務，并且多年來在全世界的集中式和分散式實驗室中都取得了成功。在這里，主要支持中央測試處理，其中工作流程將以最佳方式自動化或以減少的人工步驟進行。
     FP-LIMS可以節省您的時間，節省成本，并通過避免錯誤來確保高質量，一致的質量。這將是您的競爭優勢。當然，[FP] -LIMS可以適應您的流程，并輕松快速地集成到您的公司中。無論是用作實驗室軟件還是用作“數據收集器”。FP-Lims的基本版本已預先安裝在您的設備上。